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光谱椭偏仪

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更新时间:2017-11-12 23:06:32浏览次数:868次

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所在地区:北京北京市

联系人:包经理 (销售总监)

产品简介

光谱椭偏仪
产品型号:SE400adv
简要描述:高性能椭偏仪,针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置,拥有业内Z高测量精确度。

详细介绍

光谱椭偏仪
产品型号:SE400adv
简要描述:高性能椭偏仪,针对粗糙表面硅太阳能电池的测量装置,拥有业内zui高测量精确度。




 

技术参数
■ 膜厚范围:0-30000nm
■ 折射指数:± 0.0001
■ 厚度准确度:± 0.01nm
■ 入射角度:20 - 90°
■ 波长范围:250-1100nm(深紫外、近红外、红外可选)
■ Psi=±0.01°,Delta=±0.02°

 

特点
■ 光谱范围:UV/VIS range 250 - 1100 nm,可选扩展光谱范围NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范围(190 - 1100 nm) ;

■ 自动旋转起偏器可精确测量任意偏振状态;

■ 步进扫描分析仪可高速采集低噪音信号;

■ 可变角度范围:from 10-90°,可升级为自动变角度10-90°控制 ;

■ 单层薄膜/多层薄膜快速薄膜厚度、折射率测量;

■ 专业测试软件可大范围Psi和Delta数据自动测量,并对测试数据进行采集和分析,内置几百种材料数据库;

■ 可扩展二维自动扫描平台,实现(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping测量功能以及3D分析;

 

关键词:椭偏仪 电池

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