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苏州尚谱环境科学仪器有限公司
由美国XOS公司生产汽油中硅含量分析仪Signal是适合于碳氢化合物燃料中的微量Si元素测试仪的无损xrf分析仪器,是单波长色散x荧光光谱仪在石油检测的应用。
汽油中硅含量分析仪
分析碳氢化合物和生物燃料中的硅含量。
用于炼油厂实验室,输油管道中心,添加剂工厂,第三方检测中心
汽油中硅含量分析仪特色和优势
基于MWD XRF 单波长色散X荧光技术,Signal分析仪的zui低检测下限(LOD)可到达0.5ppm,同时检测上限达到 3000ppm
分析精度
硅含量 | r重复性 | R再现性 |
2 | 0.4 | 0.7 |
5 | 0.5 | 0.8 |
8 | 0.6 | 1.0 |
15 | 0.8 | 1.4 |
100 | 2 | 4 |
500 | 5 | 10 |
产品规格:
尺寸 | 368mm宽 × 500mm深 × 343mm高 |
电源 | 100-120V AC, 47-63 Hz at 6.0 Amps |
外部条件 | 氦气(0.7Kpazui大输入) |
样品注入 | 10毫升样品杯 |
输入输出 | 网卡 10/100 baseT RS 232 |
操作温度 | 5-40°C |
检测范围 | 1 ppm 到 3000 ppm |
检测时间 | 30-900 秒 |
用户界面 | 触摸屏 |
苏州实谱信息科技有限公司(苏州尚谱环境科学仪器有限公司)是美国XOS公司的经销商,公司一直致力于美国XOS公司的新一代xrf分析技术,即HDXRF的应用和推广,公司拥有经过*专家*培训的售后服务团队和技术骨干,提供全国范围内的服务和维修。
单色波长色散X射线荧光 (MWD XRF) 技术采用*的聚焦单色反射镜,提高了 激发光的强度,与传统高功率WDXRF系统相比,大大改善了信噪比以及检测极限 和精确度,降低了仪器对基体效应的敏感度。测量过程中,来自*块反射镜的 单色聚焦光束打在样品上,激发样品发射出特征荧光X射线。第二块单色反射镜筛 选出硫的特征X射线,并将其反射聚焦到探测器上。MWD XRF是一种直接测量技 术,不需要辅助气体或样品转化。
符合《衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》(GBZ115-2002)中剂量约束的要求。
符合《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》(GB18871-2002)中对工作人员和公众年有效剂量限制的要求。
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