冷热三箱冲击试验箱 返回列表页

冷热三箱冲击试验箱用于自动化零部件、电子电器零组件、通讯组件、金属、汽车配件、化学材料、航天、兵工业、塑胶等行业、国防工业、BGA、电子芯片IC、PCB基扳、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于冷热骤变产出的化学变化或物理伤害。

冷热三箱冲击试验箱爱佩公司常做的标准型号和内尺寸（也可按客户要求生产）（单位:mm）：

型号 AP-CJ-27L 内形尺寸:W×H×D 300×300×300 ；型号AP-CJ-50L 内形尺寸:W×H×D 360×350×400；型号AP-CJ-80L内形尺寸:W×H×D 500×400×400；型号AP-CJ-108L内形尺寸:W×H×D 600×400×450；型号AP-CJ-150L内形尺寸:W×H×D 600×500×500；型号AP-CJ-250L内形尺寸:W×H×D 700×600×600；型号AP-CJ-408L内形尺寸:W×H×D 1000×650×750；型号AP-CJ-560L内形尺寸:W×H×D 1000×700×800；(以上型号建议根据自家产品的大小选择合作的尺寸再配上合适的温度范围即可,每一款尺寸都可以在三个温度范围中选择其中一段,爱佩标准的温度范围有:A :-40~+150℃;B :-55~+150℃;C :-65~+150℃).

温度骤变时间:从冷温区到热温区或从热温区到冷温区≤10秒钟;

温度恢复时间  ≤5分钟（与温度恢复条件有关，既冷却水温、恒温时间、暴露温差、样品负载有关）

控制系统的主要控制器采用日本LED数显（P、I、D +S、S、R.）微电脑集成全触摸控制器,精度范围:设定精度温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.01℃。

制冷系统全部采用复叠式二元工业制冷，德国比泽尔半密式压缩机配美国杜邦的环保冷媒（HFC-507/HFC-23）,长久冷热骤变试验*没有问题.

所满足的标准有以下:

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GJB150.3A-2009 装备实验室环境试验方法第3部分高温试验;GB/T2423.22-1989温度变化试验；GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验;GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验;GJB367.2-1987 通信设备通用技术条件 环境试验方法;GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。