芯片测试高低温冲击箱 冲击试验机 返回列表页

芯片测试高低温冲击箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温和低温的连续环境下所能承受的程度，藉以在短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害。适用于：汽车配件、LED、金属、塑料、橡胶、电子等材料。

特点：

1、采用蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。

芯片测试高低温冲击箱技术参数：

测试室温度范围：-65℃～+150 ℃

低温冲击范围：-10℃～-65 ℃

高温冲击范围：60℃～150 ℃

预热温度范围：RT～+170℃

预冷温度范围：RT～-75℃

温度波动度：±0.5℃

温度偏差：±2.0℃

温度恢复时间：≤5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：3秒以内）

内箱材质：SUS304不锈钢板

外箱材质：SUS304不锈钢板或钢板静电喷涂表面处理

保温材质：高密度聚胺酯泡沫及玻璃纤维

制冷方式：机械压缩二元复迭制冷

压缩机：全封闭或半封闭压缩机

制冷剂：环保冷媒 R-507/R-23

冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器

标准配置：样品隔层架2个、调整挂钩4个.

引线孔：可在在箱体的左侧面开设 1 个或多个直径为Ф50mm或Ф100mm的引线孔用于测试半导体电源和测试信号线引入，带有测试孔密封盖；