元器件低温冲击试验设备 返回列表页

元器件低温冲击试验设备是模拟产品在高温冲击、低温冲击或高低温瞬间冲击变化的条件下的适应性试验，对工业产品的物理以及其它相关性能进行测试。适用于光电、LED、电器、电子材料、各种元器件、工业产品零部件或成品、金属材料等产品在。

元器件低温冲击试验设备性能参数：

试验方式：采用蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

低温冲击范围：-10℃～-65 ℃  （任意可调）

高温冲击范围：60℃～150 ℃   （任意可调）

内箱尺寸：400 *350 *350mm   (W* H *D)

外型尺寸(约)：600*1800*2000mm   (W* H *D)以实际尺寸为准  

测试室温度范围：-65℃～+150 ℃ (水冷式)

降温时间：+20℃ → -80℃≤约90min注：降温时间为低温室单独运转时的性能

升温时间：+50℃→+165℃ ≤40min注：升温时间为高温室单独运转时的性能

外壁材料：精粉体烤漆处理。

内壁材料：内板材质为SUS304不锈钢

箱体保温材料：硬质聚氨酯泡沫

制冷压缩机：德国“比泽尔"半封闭压缩机或法国“泰康"压缩机或美国“艾默生Vilter"压缩机，均采用复叠式制冷，制冷剂为美国杜邦R404A/R23

蒸发器：翅片管式换热器

冷凝器：壳管式换热器