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供应/回收 Agilent/4156C 半导体器件分析仪4156C 何：

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更新时间：2025-04-16 11:00:22浏览次数：42次

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产品简介

供应/回收Agilent/4156C半导体器件分析仪4156C何：大量回收半导体器件分析仪（Agilent/HPB1500AHPB1505A,Agilent4155C,Agilent4156C）4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为上等器件表征提供了高精度上等参数分析的实验室平台

详细介绍

供应/回收 Agilent/4156C 半导体器件分析仪4156C 何：

大量回收半导体器件分析仪（Agilent/HP B1500A HPB1505A,Agilent 4155C,Agilent 4156C）

4156C精密半导体参数测试仪是Agilent下一代的精密半导体参数测试仪，4156C为上等器件表征提供了高精度上等参数分析的实验室平台。较高的低流、低压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156C还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。41501B扩展测量能力到1A/200V，并给4156C增加一个低的噪声接地单元和双脉冲发生器。
4156C是基于PC的参数分析和表征的解决方案，标准配置包括一个参数分析仪，Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件， Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面，具有强大的分析工具，探针台驱动，和自动测试工具

特性
· 4156C提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个压源单元（VSUs）和两个压监控单元（VMUs）
· 1 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料
· 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端
· 完成准静态的容对压测试
· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标
· 用极低泄漏的SMUs测量泄露特性
· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征
· 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试
· 用图形用户界面完成“点击”测试
· 基于Windows环境的图形数据分析能力
· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常
· 待机模式不需要外部源
· 触发模式可以同步AC/DC测试。
· IBASIC 用户功能可以绘图和分析数据。