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超低硅分析仪

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更新时间：2021-06-28 17:17:35浏览次数：173次

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关河仪器设备（上海）有限公司

经营模式：生产厂家

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产品简介

能够准确检测汽油中硅含量的单波长色散X射线荧光光谱仪汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂，这些硅化合物在汽车发动机中无法*燃烧，时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障，因此汽油中硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列

详细介绍

能够准确检测汽油中硅含量的单波长色散X射线荧光光谱仪

汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂，这些硅化合物在汽车发动机中无法*燃烧，时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障，因此汽油中硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。

针对硅元素的检测仪器，主要有ICP和XRF两种方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，无需专业经验人员即可操作使用，单波长色散X射线荧光光谱仪（MWD XRF）更具有高灵敏度以及长期稳定性等特点，是轻松应对超低硅含量分析的利器。

依赖高通量双向曲面弯晶核心技术，进一步提升制造工艺，保证光路系统的精密度，真正能够将硅检出限降低到1PPM以内的X射线荧光光谱仪。

比较项	ICP	MWD XRF
原理	电感耦合等离子体发射光谱仪	单波长色散X射线荧光光谱仪
消耗	高纯氩气、吹扫用高纯氮气、矩管，消耗约1000元/天	无需钢瓶气体样品杯与样品膜，消耗4元/样品
结果准确性	影响因素：气体纯度、燃烧充分性、光栅移动重复性、干扰元素共存谱线	只针对硅元素进行高灵敏度检测，无任何元素谱线干扰
操作方便性	需要有经验的操作人员，对测试数据有解析能力	使用方便，步骤简单，无需经验即可操作，操作者对测量结果无影响
检出限	硅方法检出限~0.15PPM	硅方法检出限~0.6PPM

ICP与MWD XRF比较表

测量原理：单波长色散X射线荧光光谱仪

Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）

符合标准：ASTM D7757

产品特点：

灵敏：高选择性检测硅元素，检测限达到0.6PPM，是针对硅元素非常灵敏的X射线荧光光谱仪
稳定：XFS（X-Ray Fixed System）技术，光路工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，保证了仪器的长期稳定性。5PPM汽油样品，长期测试RSD值小于7%
快速：单个样品准备时间小于10秒钟；单个样品分析时间最长1000秒；开机10分钟内即可测试样品
经济：单个样品消耗小于4元/样品，无气体、溶剂等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare装置，使得样品杯与膜成型变得简单；长时间使用无硬件更换；无需经常校正标准曲线