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F96Pro型荧光分光光度计

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更新时间：2021-06-10 19:15:51浏览次数：113次

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天津市拓普仪器有限公司

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产品简介

可选择荧光强度和发光强度2种操作模式，荧光强度模式下可进行荧光光谱扫描、荧光动力学测定和定量分析。

详细介绍

产品详细资料

F96Pro高速荧光分光光度计采用150W滨松高品质氙灯和更换式干涉滤光片系统设计，可提供从250nm至700nm区间的可选激发应用配置；发射单色器采用1200线光栅、大孔径非球面反射镜分光系统，高速扫描时1秒内即可完成全谱扫描、计算和测量，专业软件包含多种分析功能，丰富的附件可支持液态、固态、粉末、薄膜样品的测量，可通过选配多用途荧光样品座附件实现高浓度样品的准确测量，对于少至5μl的微量样品同样可以精确测定，并可选配微量样品附件和自动进样附件，满足多种应用。

F96Pro高速荧光分光光度计适合从紫外光区到可见光区的测定，支持单机、联机2种模式，单机状态下使用机内微机系统提供荧光强度测量、浓度直读、自动调零、自动扣除背景等功能，联机状态可通过USB2.0接口使用上层软件对仪器进行控制和数据采集分析．

F96Pro荧光分光光度计是基于经典稳定的光学与的电子学的技术发展，具有高检测灵敏度、高测试速度、人性化的多功能控制和分析的操作软件和丰富测量附件的高性能检测仪器，可以进行便捷、舒适、快速的高精度荧光光谱测量，适用于材料研究、药品分析、生化及临床检验、水质分析控制、食品安全检测等领域对样品进行定性定量分析。

可选择荧光强度和发光强度2种操作模式，荧光强度模式下可进行荧光光谱扫描、荧光动力学测定和定量分析。
365nm激发波长水喇曼峰信噪比≥150（p-p），出色的高检测灵敏度可使低检测限的样品测定变得十分精确和简单。提供10档发射谱扫速选择，包括高速低噪声扫描和精细扫描。其中超快扫描为30000nm/min，可在1秒内完成全谱扫描，并有智能预扫描功能，可快速显示未知样品的光谱信息，自动排除其他散射峰和倍频峰影响，确定测量参数，定位荧光发射峰。
支持单机、联机2种模式，单机状态下使用机内微机系统提供荧光强度测量、浓度直读、自动调零、自动背景扣除等功能，联机状态可通过USB2.0接口使用定性/定量软件对仪器进行控制和数据采集分析。
高强度的150W氙灯为连续光谱，可在200nm至900nm波长范围内提供出色的测试稳定性。
定量分析时具有荧光值归一化功能，可消除不同荧光光度计间荧光值不可比较的问题，方便高校教学中学生实验报告的统一评价。
定性/定量软件功能丰富，发射谱波长扫描菜单可提供图谱缩放、多图谱比较、图谱运算、峰谷检测、峰面积计算和1-4阶导数光谱功能；定量测试菜单可使用标准曲线法与待定系数法检测样品浓度，提供一阶线性回归、二阶或三阶线性拟合，并可自定义浓度单位。
多种测量附件，包括单孔比色皿座、多用途荧光样品座、200μl微量离心管荧光测量、毛细管微量样品架、荧光样品半自动进样、单孔比色皿适配器、膜状样品架、粉状样品架和护套式比色皿架等，低至5μl的微量样品可轻松测定，对高浓度荧光检测，固体荧光检测同样适用，能够满足多种使用要求。
小巧玲珑的机型可节约大量桌面空间

技术参数	技术指标
检测灵敏度	水拉曼峰信噪比： S/N ≥ 150（P-P）
激发波长带宽	10nm
发射波长带宽	10nm
发射波长准确度	±1.0nm
发射波长重复性	≤0.5nm
光源	光学系统	C-T单色器光栅自动波长扫描
荧光接收器	日本滨淞光电倍增管
激发波长可选范围	250nm~700nm（滤光片）
发射波长范围	200nm~900nm
波长扫描速度	30000nm/min，精细扫描15nm/min
测量线性	相关系数≥0.995
增益调节范围	1~17档可选
积分响应时间	6档可选：0.1s~4s
时间扫描设定	可任意设定，为60000秒
数据输出方式	Microsoft（R）Excel格式，bmp图片格式
数据传输方式	USB2.0接口
光度值范围	0.00-600
峰值强度重复性	≤1.5%
电源	220V/50Hz，110V/60Hz
标准耗能	190W

标准配置项目	数量
F96Pro荧光分光光度计主机	一台
激发滤光片	365nm
产品使用说明书	一本
产品合格证明书	一份
软件光盘	一张
10mm石英比色皿	2 只
电源电缆	一根
USB 电缆数据线	一根
熔丝（2A与5A）	各2只
装箱单	一份

测量附件	功能
单孔样品池座（已标配）	常规液体荧光测量
多用途荧光样品座	多种测量附件基座
倍频滤光片	消除荧光测量中的倍频干扰峰
200μL微量离心管测量附件	离心管荧光测量功能
毛细管微量样品测量附件	提供毛细管微量样品测量功能
单孔样品池适配器	配合多用途荧光样品座组成常规液体荧光测量和荧光反射测量功能
膜状荧光样品测量架	配合多用途荧光样品座组成常规膜状样品荧光测量和荧光反射及透射测量功能
粉状荧光样品测量架	配合多用途荧光样品座组成常规粉状样品荧光测量功能
护套式样品池架	配合多用途荧光样品座组成护套式荧光样品池荧光测量功能
微量石英四通比色皿	提供微量样品荧光测量功能