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SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪

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更新时间:2022-08-22 15:12:12浏览次数:161次

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特点:碳化钨超耐磨测头,反应速度
SurfixFN外置探头两用统计型测厚仪

 

特点: 

       碳化钨超耐磨测头,反应速度,同屏显示统计数据,SurfixFN两用统计型测厚仪可存储前200测值,SurfixFN涂层测厚仪可测铁基体上涂镀层和有色金属
       基体上涂层,量程1500μm
       精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
       有红外可接PC及打印机  

技术参数:

    测量范围

 0-1500µm,0 - 60mils

     误差

 ±(1µm+1%读数)

     分辨率

 0.1µm或小于读数的2%

     显示

 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示

     基体*小面积

 5mmX5mm

     基体*小曲率

 凸面:1.5mm凹面:5mm

     基体*小厚度

 F型:0.2mm ,N型: 50µm

     校准

 厂家校准,零校准,校准箔校准

  数据统计(统计型)

 读数个数(*多9999个),平均值,标准偏差,*大值和*小值

  数据存储(统计型)

 *多200个测量数值,可单独调出

    数据值(统计型)

 上下限可调,声音报警

     数据接口

 红外通讯,IrDA标准

     环境温度/表面温度

 0-50℃/60℃(可选配150℃)

     电源

 两节1.5伏五号碱性电池

     仪器尺寸

 137x66x23mm

     符合标准

 DIN,ISO,ASTM,BS

 

 

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