日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪具有创新的光学上述配置，由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。在处理样品的时候精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定，这对于要求高精度的应用很重要，光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

详细介绍

日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪具有创新的光学上述配置，由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。在处理样品的时候精度定位确保样品表面与X射线管之间的距离保持恒定，这对于要求高精度的应用很重要，光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间，并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂，使样品制备更快捷简便。

产品特点：
1、操作界面简洁、自动化程度高；
2、元素从O到U的分析；
3、样品室可简单移出方便清洁；
4、管道上方的光学器件使污染问题小化；
5、特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差；
6、占地面积小，使用的实验室空间有限；
7、精度定位样品台满足合金分析高精度要求；
8、统计过程控制软件工具（SPC）吞吐量可以优化疏散和真空泄漏率。

日本理学ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪，例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光学配置进行高精度分析，可实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析，可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率，使粉末和金属样品的样品处理量达到标准形式，真空室内飘散粉末损坏光管的风险，以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气（O）到铀（U）的主要和次要原子元素。