DiaTest-ASM全自动单颗粒强度测定仪
DiaTest ASM是一款具有集成粒度和形状分析（图像分析）功能的自动断裂强度测试仪（压缩试验机）。
主要部件包括带高精度称重传感器和砧座位移传感器的气压机、带摄像头和照明的测量光学元件。自动系统一次移取一个颗粒，并将其送入自动测量程序。
DiaTest-ASM 是一台全自动单颗粒强度测定仪。它结合了单颗粒单向断裂试验, 光学尺寸和形状分析。并自动完成单颗粒的分离和处理。 该机可用于超硬磨料如金刚石，也可用于普通磨料，化合物和其他脆性颗粒的测试。
测试仪与控制计算机之间通过标准接口（USB和firewire）进行连接。
硬件：
DiaTest ASM是一种具有集成粒度和形状分析的自动断裂强度测试仪。主要部件包括带高精度称重传感器和砧座位移传感器的气压机、带摄像头和照明的测量光学系统以及附加的观察摄像头。自动拾取和放置系统处理单个粒子。测试仪和控制计算机之间的连接通过标准接口（USB和firewire）实现。
软件：
系统操作由一个易于操作的程序界面控制，该界面在标准PC上运行
操作原理：
胶带用作颗粒的载体。拾取和放置系统从容器中取出单个粒子并将其放置到胶带上。胶带上的颗粒被拉过机器。首先，他们通过显微镜，在那里计算尺寸、形状和位置参数。然后颗粒到达气动压力机。这里施加一个平滑上升的力，直到粒子破裂。根据力、时间和位移数据计算压缩断裂力。断裂力与光学粒子分析结果一起存储。根据断裂力和颗粒尺寸计算断裂强度。
该程序创建EXCEL表格，其中包含所有测试粒子的数据以及带有统计结果的表格和报告。
技术数据：
电源：外部开关
电源外部开关：24V DC/1.8A，
电源输入：100-230V交流电。
施力：双向短冲程气缸
输入压力：6 bar < p < 10 bar
工作压力：4.2 bar < p < 4.6 bar（可在设备中调节）
测量范围
粒度：150 µm ... 2mm
力值：0…2000N通过称重传感器直接测力
附加力值范围：0-200 N
过载：2300 N（230N）
分辨率：3N（0,3N）（整个装置）
测量误差：20 N（2N）（所有子组件）
光学分辨率：4,2µm/像素
图像大小：1388 x 1038像素
砧座材料：PCD
输送带：12mm透明胶带
PC（所需资源）：Windows 7或XP 32位
1x USB 2.0端口1x PCI
1x PCI Express
处理时间：每批约50分钟（每批500粒）
压缩机电源：220~230伏交流电。
每个颗粒和整个批次的计算参数：
- 压缩断裂力（CFF）
- 抗压断裂强度（CFS）
- 最小feret直径
- 总面积
- 凸周长
- 惯性矩
- 费雷特伸长
- 密实度
- 面积当量直径
- 高度
- 椭圆度
- 凸性
- 圆度
- 纵横比
- 箱比
- 粗糙度
- CIELab*颜色坐标
报告生成：
所有结果均以EXCEL文件格式（XLS）保存。每个批次的一个文件包含每个测试粒子的数据。每个产品的一个文件包含属于该产品的所有批次的测量参数的统计分布。打印的报告包含批次的可选数据。
特色：
控制程序允许随时中断测量过程。采集的数据存储在硬盘上，可在操作员希望继续工作时重新加载。
