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显微熔点仪 熔点仪

参  考  价:面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号DP-SGW X-4

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更新时间:2021-09-04 23:30:50浏览次数:78次

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显微熔点仪 熔点仪 型号:DP-SGW X-4特点:测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻法(热台片法)测定。

显微熔点仪 熔点仪 型号:DP-SGW X-4

特点:

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻法(热台片法)测定。

主要参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±
1℃ (在<200℃ 时)

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)


X-4

X-4A

X-4B

温度显示zui小值

1

0.1

0.1

熔点观察方式

单目显微镜

单目显微镜

双目体视显微镜

光学放大倍数

40×

40×

40×-100×连续变倍






显微熔点仪 熔点仪 型号:DP-SGW X-4A

特点:

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻法(热台片法)测定。

主要参数:
熔点测量范围:室温至320℃
测量重复性:±
1℃ (在<200℃ 时)

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)


X-4

X-4A

X-4B

温度显示zui小值

1

0.1

0.1

熔点观察方式

单目显微镜

单目显微镜

双目体视显微镜

光学放大倍数

40×

40×

40×-100×连续变倍






型号:DP-SGW X-4B

特点:

测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。

主要参数:

熔点测量范围:室温至320℃

测量重复性:±1℃ (在<200℃ 时)
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时)

温度显示zui小值:0.1℃


X-4

X-4A

X-4B

温度显示zui小值

1

0.1

0.1

熔点观察方式

单目显微镜

单目显微镜

双目体视显微镜

光学放大倍数

40×

40×

40×-100×连续变倍







显微热分析仪 显微热检测仪 型号:DP-WRX-1S

性能指标
熔点测量范围:室温至300℃

温度显示zui小示值:0.1℃

线性升温速率:0.2,0.5,1.0,1.5,2.0,3.0,4.0,5.0(℃min)

标准配置:配计算机数码目镜1/3"彩色CMOS

图象分辨率:640×480







目视熔点仪 熔点仪 型号:DP-WRR

特点: 测定晶体物资的熔点以确定其纯度。主要用于药物、染料、香料等晶体有机化合物熔点之测定。测量方法符合药典标准。可同时测三根样品,自动计算初、终熔平均值。采用LED作为照明光源,持久耐用,一目了然. 可以测有色颜色偏深样品。直接观察熔化过程,是按药典规定的熔点检测方法而.



主要参数:
熔点测量范围:40-280℃
熔点显示zui小示值:0.1℃

线性升温速率:0.5, 1.0, 1.5, 3.0(℃/min)

测量温度准确率:<200℃时:±0.5℃ ≥200℃时:±0.8℃
重复性(zui大偏差):0.3℃


注:产品详细介绍资料和上面显示产品图片是相对应的






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