奥林巴斯BTX-II台式XRF/XRD分析仪

一、BTX-II仪器简介

       奥林巴斯BTX-II台式XRF/XRD分析仪是由美国Innov-X研发生产的一款台式XRD/XRF设备，其主要涉及宗旨是对各种类型的粉末样品进行分析。将某个样品的衍射图案特性与XRD款物图案数据库中的图案相比较，进行相位识别。在相位识别过程中，同时可使用XRF技术不仅可以方便筛查操作，还可解决罕见的不确定性问题。可以说，它是XRD 家族中一款的产品，采用的2D-XRD 技术，与传统大型台式1D-XRD 相比较，具有原理构造上的创新，其表现在：

1）奥林巴斯BTX-II台式XRF/XRD分析仪采用透射衍射几何技术：即X 光束直接穿透样品，探测器接收的是透过样品的衍射光束而非传统台式机探测器接收的反射光束。

2）采用大面积二维CCD 探测器而非传统一维计数器，探测面积为1024x 256 pixels，且能同步进行XRD 和XRF 信息采集。

3）采用样品振动系统（NASA ），不使用传统测角仪，在样品检测过程中，X 光束和探测器均静止不动，而所检测样品通过磁性连锁装置高速振动，以获取衍射信息。

二、BTX仪器结构系统

1、X 光管、X 射线准直器、探测器、冷却系统、样品振动系统构成了整个BTX 系统。

2、X 光管为微焦X 射线管，靶材标准配置为Cu或Co，并可根据检测样品情况选择使用Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、Wu 等。管电压为30kV，管电流为0.33mA,功率为10W。低功率管压保证了射线管长使用寿命，正常使用至少达10 年。微焦X射线管保证了X 射线良好的聚焦性。X 射线准直器采用针孔准直系统，替代传统大型台式机的光学校准部件，光栅作用*。

3、探测器采用二维CCD 探测器，探测面积1024 x 256 pixels，该探测器可有效识别衍射光束和荧光光束，对能量和位置极度灵敏，可同步进行XRD 及XRF 分析。

4、冷却系统采用Peltier电子制冷，可有效保证探测器正常工作温度（-45°C）。5、样品振动系统（NASA ）替代传统测角仪，该装置使得样品在样品室中以6000HZ 的频率振动，保证样品检测的多角度，同时提高检测样品的统计量。