Olympus Vanta系列土壤重金属分析仪

用于合金的Vanta分析仪：坚固耐用、改进创新、高效多产
用于制造业的质量保证/质量控制

快速有效地对各种场地进行筛检，探测出重金属污染物质
监控污染物质和营养物质，保证安全合理地使用土地
在遵守环境管理规定的过程中节约了时间、降低了成本

Vanta 分析仪可用于快速、精确地辨别和定量污染金属元素。这款分析仪可被带到任何场所进行检测，并在场地定性、房产评估、污染物跟踪、危险废料筛查、治理监控及合规检测等应用中快速得到检测结果。用于环境检测的Vanta 分析仪在样件准备方面几乎没有要求，是用于筛查大面积场地和分析袋装土壤、沉积锌（Zn）等污染元素，以及《资源保护及恢复法案》（RCRA）中限制的银（Ag）、砷（As）、钡（Ba）、镉（Cd）、铬（Cr）、Hg（汞）、铅（Pb）和硒（Se）元素的理想工具，还可以检测稀土元素（REE）及放射性元素铀（U）、钍（Th），检测含量为PPM 到百分含量级别。

使用手持式XRF分析仪的优势特性

快速覆盖大面积区域，从而提高了采样密度，推进了决策的时间进程。使勘探人员立即专注于异常情况。增加密度/ 扩充采样可地提高在野外进行分析的效率。使用XRF 技术对样本进行预筛选，可以为在实验室进行的分析选择优先样本，从而可更合理地预算分析经费。在现场根据详实的信息作出决策，可以优化钻探预算经费的使用。

坚固耐用

符合IP 65/64评级标准，可以抵御灰尘和雨水的侵袭
通过了从4英尺高处坠落的测试（MIL-STD 810G），适合复杂场地和生产环境
可以在 -10 °C到50 °C的温度范围内操作 
为装有硅漂移探测器的分析仪，提供了金属自动挡板保护昂贵的探测器

改进创新

采用*的Axon技术，更高的X 射线计数率，更快、更精确的检测结果，以及更低的检出限
接近于理论极限的分辨率
无需标样自动能量校准，分析仪自动进行能量校准，保证了*的测试稳定性
四核处理器可使用户在极短的时间内获得分析结果

高效多产

简单直观的用户界面（UI）可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能
根据用户的特定需求，配置用户界面
用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键
通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单

M 系列

我们大的Vanta 分析仪具有非同一般的性能，可以完成要求的应用。每台M 系列分析仪都配备有一个大区域SDD 硅漂移探测器， 用户可选择50KV 的铑（Rh）或钨（W）阳极靶材的X 射线管。

主要型号有：VMR、VMW。

C 系列

C 系列Vanta 分析仪汇集了以下优质特性：超高的速度、极低的检出限（ LOD）和宽泛的可测元素范围，是一款价值的分析仪。每台C 系列分析仪都配备有一个高性能SDD 硅漂移探测器，用户可以选择40KV 的铑(Rh) 或钨(W) 阳极靶材的X 射线管，或者50KV 的银(Ag) 阳极靶材的X 射线管。
主要型号有：VCR、VCW、VCA。

L 系列

L 系列Vanta 分析仪拥有较高X 射线计数率，超低电子噪声设计，使得仪器具有优质的检出限（LOD)，*的分析速度和准确性。每台L 系列分析仪都配备一个高性能Si-Pin 探测器，和4W 的大功率钨（W）阳极靶材的X 射线管。
主要型号有：VLW。