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X射线镀层测厚仪

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  • 型号 GR/Thick 600
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更新时间:2021-06-11 22:11:04浏览次数:11

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产品简介

X射线镀层测厚仪X荧光光谱仪型号:GR/Thick600X射线镀层测厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成

详细介绍

X射线镀层测厚仪  X荧光光谱仪

型号:GR/Thick 600

X射线镀层测厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。

使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。

性能特点

长效稳定X铜光管

半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷

采用天瑞仪器产品—信噪比增强器(SNE)

内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品

脉冲处理器,数据处理快速准确

手动开关样品腔,操作安全方便

三重安全保护模式

整体钢架结构、外型高贵时尚

FP软件,无标准样品时亦可测量

技术指标

型号:THICK600

分析范围: Ti-U,可分析zui高3层15个元素

分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)

分析精度:多次测量稳定性可达1%.

工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)

测量时间:40秒(可根据实际情况调整)

探测器分辨率:(160±5)eV

光管高压:5-50kV

管流:50μA-1000μA

环境温度:15℃-30℃

环境湿度:30%-70%

准直器:配置不同直径准直孔,zui小孔径φ0.2mm

仪器尺寸:610(L) x 355 (W) x 380(H) mm

仪器重量:30kg

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,环保在线对此不承担任何保证责任。
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