陈霞
销售
扫一扫，微信联系
18922517093
当前位置：秋山科技（东莞）有限公司>>其他设备>>电阻检测仪>> NC-10（NC-20）日本napson非接触涡流法薄层电阻测量装置
日本napson非接触涡流法薄层电阻测量装置NC-10（NC-20）
测量目标
半导体/太阳能电池材料相关（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
硅基外延，离子与
半导体相关的进样样品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*请与我们联xi）
测量尺寸
3-8英寸〜156 x 156毫米
（可选; 2英寸或12英寸〜210 x 210毫米）
日本napson非接触涡流法薄层电阻测量装置NC-10（NC-20）
测量范围
[电阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[板电阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至
0.05Ω- cm）（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，环保在线对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
环保在线