陈霞
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日本napson非接触型超低电阻范围的电阻测量PVE-80
由于是使用脉冲电压激励法作为测量原理的非接触电阻测量系统，因此可以在不损坏样品的情况下进行测量。
节省空间的设计主体外壳，便携式可移动平台
通过PC（软件）进行简单的测量操作，数据存储和管理
测量显示单元可以根据应用（薄层电阻，电导率，电导率）进行更改
*本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法（专li号5386394）。
测量目标
与新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）与
导电薄膜相关（金属，ITO等）
与化合物半导体相关（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查询）请给我）
测量尺寸
〜A4尺寸（W300 x D210mm）
测量范围
50μ〜1mΩ/平方
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