陈霞
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日本napson超高电阻范围兼容的薄层电阻检测CRN-100
测量目标
*通常,可以测量本设备测量范围内的任何样品。请联xi我们。
・超高电阻薄膜样品(a-Si,IGZO等)
・半导体材料接近绝缘
・导电橡胶
这样
测量尺寸
尺寸:z大300 x 400毫米
厚度:z大2毫米
*我们可以自定义您的要求,例如尺寸支持。请联xi我们。
测量范围
10E + 9〜10E + 15Ω/□
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