陈霞
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日本富士fujiwork超薄薄膜测厚仪HKT-1216
消除测量者的偏差舒适,准确地测量1μm或更小的超薄膜
* 1线性度是
显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。 位移量
为±0.2%
/ 100μm±0.2μm
位移量/ 500μm±1μm
位移量/ 1000μm±2μm
(测量误差因位移量而异)
* 2根据被测物体的材质,测量范围可能会改变。
*注意* HKT-1240已因放大器单元的停产而停产。HKT-1216将替代HKT-1240。
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