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详细介绍
一、超低硅分析仪 XRF-1430概述
汽油在炼制过程中使用了含硅的试剂或催化剂，这些硅化合物在汽车发动机中无法*燃烧，时间一长硅的沉积物会造成氧气传感器失效等故障，因此汽油中硅元素的检测被列入国家标准制定范围之列。
针对硅元素的检测仪器，主要有ICP和XRF两种方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，无需专业经验人员即可操作使用，单波长色散X射线荧光光谱仪（MWD XRF）更具有高灵敏度以及*稳定性等特点，是轻松应对超低硅含量分析的利器。
依赖高通量双向曲面弯晶核心技术，进一步提升制造工艺，保证光路系统的精密度，成为世界上shou家真正能够将硅检出限降低到1 ppm以内的X射线荧光光谱仪制造厂家。
比较项 | ICP | MWD XRF（DUBHE-1430） |
原理 | 电感耦合等离子体发射光谱仪 | 单波长色散X射线荧光光谱仪 |
消耗 | 高纯氩气、吹扫用高纯氮气、矩管，消耗约1000元/天 | 无需钢瓶气体 样品杯与样品膜，消耗4元/样品 |
结果准确性 | 影响因素：气体纯度、燃烧充分性、光栅移动重复性、干扰元素共存谱线 | 只针对硅元素进行高灵敏度检测，无任何元素谱线干扰 |
操作方便性 | 需要有经验的操作人员，对测试数据有解析能力 | 使用方便，步骤简单，无需经验即可操作，操作者对测量结果无影响 |
检出限 | 硅方法检出限~0.15 ppm | 硅方法检出限~0.6 ppm |
ICP与MWD XRF（DUBHE-1430）比较表
测量原理：单波长色散X射线荧光光谱仪
Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）
符合标准：ASTM D7757
二、超低硅分析仪 XRF-1430特点
灵敏：高选择性检测硅元素，检测限达到0.6 ppm，是针对硅元素灵敏的X射线荧光光谱仪
稳定：XFS（X-Ray Fixed System）专li技术，光路工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，大限度的保证了仪器的*稳定性。
5 ppm汽油样品，*测试RSD值小于7%。
快速：单个样品准备时间小于10 s；单个样品分析时间长1000 s；开机10 min内即可测试样品
经济：单个样品消耗小于4元/样品，无气体、溶剂等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare装置，使得样品杯与膜成型变得简单；长时间使用无硬件更换；无需经常校正标准曲线
三、技术参数
| 序号 | 项目 | 技术参数 |
| 1 | 低检出限： | 0.6 ppm（异辛烷基体中硅） |
| 2 | 准确度： | 2±0.6 ppm,5±0.8 ppm，10±1 ppm |
| 3 | 稳定性： | 5 ppm标样连续测试15次，RSD值10%以；同台仪器15天以内测试（每天两次），RSD值15%以内 |
| 4 | 线性： | 0、1、2、5、10、50 ppm硅标样，线性99.9%以上 |
| 5 | 测试时间 | 500 s—1000 s |
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