X荧光射线镀层测厚仪

X荧光射线镀层测厚仪性能比：能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

X荧光射线镀层测厚仪的应用范围 :1、分析电子部品电镀层的厚度
　 2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析   
  3、各镀层的成分比例分析。

●单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
●二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
●三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
●双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
●双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
●zui多24种镀层（使用FlexFp -Multi软件）。
●分析多达4种（或24种－FlexFp -Multi）元素。

设计特点：
☆ 单、双及三层镀层系统
☆ 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量
☆ 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）
☆ 能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量
☆ 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择
☆ 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估
☆ 报告生成，数据输出
☆ 语言选择：英语，中文
☆菜单中的某些选择项可*使用
注：基础FlexFp -Multi软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。
☆ 可随意创建测量应用
☆ 可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度
☆ 快速的频谱分析以决定合金成分