NE9202静态位移校验器

这是一种便携式效验仪设备，可用于现场或实验室。主要用于电涡流位移传感器静态特性的标定及电涡流位移传感器配套位移测量仪表的标定。

技术参数：

1.校准精度：百分表精度技术指标校准范围：   0~25mm;0~35mm;0-50mm  

2.试件材料：40CrMoA

3.试件直径：Φ75mm或Φ105mm大校准探头Φ25mm

4.试件直径：Φ105mm或Φ125mm大校准探头Φ35mm

5.试件直径：Φ150mm或Φ175mm大校准探头Φ50mm

NE9202静态位移校验器

产品概述
　　ZA-BJZ-01型高精度静态校准器采用高精度（大分辨率0.5μm、大精度1μm）直进式、大量程微分头结构，体积小、携带方便。可用于高精度位移传感器的静态标定和校准。

特 点

采用全进口高精度大量程的微分头结构，在位移改变的过程中，试件盘不会像现在市场上的其他产品一样发生摆动或旋转，而只会在轴向前后移动。为现有市场上精度高、量程大才、重复性的静态位移校准器，大位移量程可达25mm。

技术指标

大量程:ZA-BJZ-01型25mm

试件盘直径：ф108，可用于探头头部体直径大ф36的电涡流传感器

位移分辨率：0.5μm

微分头精度：≤±1μm

系统精度：≤±2μm

外形尺寸：ZA-BJZ-01型200（长）×90（宽）×126（高）单位：mm（不含试件盘）

ZA-BJZ-02型400（长）×90（宽）×166（高）单位：mm（不含试件盘）

阿贝中心高：ZA-BJZ-01型118mm

                    ZA-BJZ-02型134mm

系统组成

ZA-BJZ型静态校准器由高精度大量程微分头、探头安装支架、微分筒安装支架、底板、试件盘、探头转接套等几部分组成。