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台式X射线荧光光谱仪

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更新时间:2020-01-15 23:21:47浏览次数:529

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产品简介

加工定制    
台式X射线荧光光谱仪采用XOS技术DCC®(双曲面弯晶技术),取代传统的滤光片和准直器,真正实现单色光激发样品;

详细介绍

1. XOS 公司介绍:

◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射线光学系统公司) 总部位于美国纽约州Albany, 为丹纳赫水质平台子公司。

◆ XOS®是一家先的关键性应用材料和元素分析设备供应商,为重视控制材料质量与性能的行业监管部门和客户提供拥有*技术的分析设备。

◆ XOS公司拥有强大的研发和设计能力,与美国的众多研究机构有合作关系,曾经参与了许多的课题设计,包括美国宇航局的行星元素探测计划(XRF方法)等。

◆ XOS拥有*的X射线光学技术,能够帮助客户将测量灵敏性提高百倍,减少测量时间,提高空间分辨率,缩小设备尺寸,并且节约设备成本。

◆ XOS公司的光学晶体广泛应用于大型波长色散型XRF、微区聚焦XRF、扫描电镜等X射线仪器。XOS公司与其他的XRF生产厂商都有合作,提供给它们必需的光学聚焦晶体。

◆ XOS公司具备HDXRF的核心技术——DCC,也是目前世界上一家拥有自己核心技术的XRF生产厂商,其他品牌XRF的核心部件——X光管、滤光片、准直器等均为外购。

◆ XOS公司在元素分析领域有着广泛的技术应用,XOS公司与美国NASA下属的JPL实验室合作,研发了一款专门用于2020火星计划的XRF元素分析仪

 

2.台式X射线荧光光谱仪 主要技术参数和优点:

1) 采用XOS技术DCC®(双曲面弯晶技术),取代传统的滤光片和准直器,真正实现单色光激发样品;

2) 检测光斑1mm,适合测试不规则样品和细小样品;

3) 采用高速SDD硅漂移探测器,分辨率高,无需液氮冷却;

4) 满足美国ASTM F2853标准;

5) 可同时测试涂层与基材中的重金属含量;

6) 台式X射线荧光光谱仪采用基本参数法,可分析各类未知样品;等等

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