详细介绍 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量 主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。 基本参数 测量模式 LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 测量参数 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q 测量量程 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） 显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） 基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° 测量频率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） 测量信号电平 V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上） 输出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω 显示 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF 测量时间 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） 测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2 其他功能 DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN 电源 AC90~264V，50/60Hz，150VA 打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） 接口 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) 电源 AC90~264V，50/60Hz，150VA 体积和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg 附件 电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1 选件： 探头和测试治具 4端子探头L2000 DC~5MHz，1m长 4端子探头 9140-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω， 可测导体直径φ0.3mm~5mm 镊形探头 9143-10 线长1m，DC~5MHz，50Ω， 前端点击间隔：0.3~约6mm 测试治具 9261-10 线长1m，DC~5MHz，50Ω， 可测导体直径φ0.3mm~1.5mm 测试冶具 9262 直接连接型, DC～5 MHz 测试冶具 9263 DC~5MHz，直接连接型，测试样品尺寸：1mm~10mm 当使用9268-10或9269-10时，需要外接恒压和恒流源。 DC偏置电压单元 9268-10 直接连接型，40Hz~5MHz，外加电压DC±40V DC偏置电流单元 9269-10 直接连接型，40Hz~2MHz，外加电流DC 2A(外加电压DC±40V) 4端子探头 9500-10 线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm SMD测试治具9677 用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm SMD测试治具9699 用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下 工厂安装选件 等效电路分析软件IM9000 用于IM3570（工厂安装选件）。购买阻抗分析仪IM3570的客户可加上等效电路分析软件IM9000的功能。请当地HIOKI代表处。 PC通讯 GP-IB连接线9151-02 2m长 打印机 打印机9670 供电电源为AC适配器，9671或电池组9672， 无CE标志。
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