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扫描电子显微镜 JSM-7610F

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更新时间:2024-02-13 16:21:31浏览次数:18

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产品简介

扫描电子显微镜 JSM-7610F 用于材料和电子器件失效分析的微观观察,同时具有超高分辨率和大景深的特点,根据观察效果不同,可选择钨灯丝电镜和场发射电镜.

详细介绍

用于材料和电子器件失效分析的微观观察。

同时具有超高分辨率和大景深的特点。

根据观察效果不同,可选择钨灯丝电镜和场发射电镜。

典型应用:

- 铜箔表面的形貌观察,尤其是铜瘤的检查;

- 铜箔毛面与粘结片树脂剥离后的微观形貌观察;

- 焊点失效时,焊点合金层形貌;

- 键合不良时焊点的微观形貌。

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