瞬态平面热源法快速导热系数测定仪 返回列表页

DZDR-S瞬态平面热源法快速导热系数测定仪

瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术 在研究材料时能够快速准确的测量导热系数，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便。该型号是在DZDR-S1基础上升级的一款，可以选配有粉末测试容器、液体杯

技术参数:

1.测试范围: 0.001—300W/(m*K)

2.测量温度范围: 室温—130℃

3.探头直径: 一号探头7.5mm；二号探头15mm

4.精度: ±3%

5.重复性误差: ≤3%

6.测量时间: 5~160秒

7.电源: AC 220V

8.整机功率: ﹤500w

9.测试样品功率P： 一号探头功率0；二号探头功率0

10.样品规格：一号探头所测单个样品（≥15*15*3.75mm）；二号探头所测单个样品 (≥30*30*7.5mm)

11.定制粉末测试容器一套(选配）

DZDR-S瞬态平面热源法快速导热系数测定仪仪器特点：

1.测试范围广泛，测试性能稳定， ;

2.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；

3.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；

4.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；

5.对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；

6.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；

7.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；

8.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；

9.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加；

10.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；

11.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；

12.强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统