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详细介绍
LCR测试仪（C测试）
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
•高速测量2ms
•能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
•对应测试线，比较器功能/触发输出功能
•3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
•3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
LCR测试仪（C测试）
| 测量参数 | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） |
| 测量范围 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数 |
| 测量频率 | 120Hz, 1kHz |
| 测量信号电平 | 恒定电压模式: 100mV (*3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) |
| 输出电阻 | 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时） |
| 显示 | 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定） |
| 测量时间 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外) |
在同行领域中，我公司以科学管理的体系，优良的品牌以及的售后服务倍受广大客户的青睐。并与国内外仪表生产厂商有着广泛的技术交流。分别在中国市场主要代理德国RS、阿美特克、中国台湾固纬、中国台湾华仪、日本横河、美国安捷伦、美国泰克、美国力科、福禄克、美国ETS、美国IDEAL、日本日置、泰仕、日本NF、爱德万、日本理音、日本共立、日本新宝、、常州同惠、艾法斯、德国欧普士、德国德图、德国菲希尔、赛多利斯、北京时代、上海仪华、三基电子等品牌。
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