梅特勒XS分析天平致力于获得高生产率。 XS 天平的诸多优势关注于一个目标：使您更加简单、安全地工作，从而实现更高的效率。
梅特勒XS分析天平性能特点:
●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
触摸屏（TouchScreen）：背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂，帮助您有效节省操作时间。
网格秤盘（SmartGird）：有效降低称量室中气流对称量的影响，从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错，样品会直接散落在网格秤盘（SmartGird）下的金属底盘上，因而不会影响称量结果，且不浪费您的样品。
梅特勒XS分析天平技术参数:
型号 | 称量值 | 可读性 | 重复性（sd） | 线性误差 | 典型稳定时间 | 秤盘尺寸 |
XS105DU | 41/120 | 0.01/0.1 | 0.02/0.1 | 0.2 | 4/1.5 | 78×73 |
XS205DU | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.02/0.1 | 0.2 | 4/1.5 | 78×73 |
XS64 | 61 | 0.1 | 0.1 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
XS104 | 120 | 0.1 | 0.1 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
XS204 | 220 | 0.1 | 0.1 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
XS204DR | 81/220 | 0.1/1 | 0.1/0.7 | 0.5 | 3.5/1.5 | 78×73 |
DR=变量程；DU=双量程；sd=标准偏差
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