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QS30工频介电常数介质损耗测试仪厂家 详细摘要: 描述:QS30工频介电常数介质损耗测试仪厂家电桥电容比Cx/Cs(当额定比率为1:1时)为0到1.111110,步级0.000001,倍率(K)变化范围为100...
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介电常数及介质损耗检测仪 详细摘要: 描述:介电常数及介质损耗检测仪本标准规定了在15Hz〜300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法,并由此计算某些数值,如损耗指数。本标准中所叙述的某...
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陶瓷材料介电常数测试仪价格 详细摘要: 描述:陶瓷材料介电常数测试仪价格合格指示预置功能范围:5~100011.环境温度:0℃~+40℃;12.消耗功率:约25W;电源:220V#177;22V,50...
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介质损耗及介电常数测定仪 详细摘要: 描述:介质损耗及介电常数测定仪不用换算,直接读数,LJD-B/LJD-C高频Q表能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容...
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LJD-B型介电常数测定仪 详细摘要: 描述:LJD-B型介电常数测定仪.平板电容器:极片尺寸:50mm/38mm 可选极片间距可调范围:≥15mm
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硅橡胶高频介电常数测试仪 详细摘要: 描述:硅橡胶高频介电常数测试仪双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。自动化测量技术 -...
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介电常数测定仪 (固液体) 详细摘要: 描述:介电常数测定仪 (固液体)直接读数,不用换算,测试简单方便)Q值测量a.Q值测量范围:2~1023;b.Q值量程分档:30,100,300,1000,自动...
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电容器薄膜材料介电常数测试仪 详细摘要: 描述:电容器薄膜材料介电常数测试仪1.平板电容器极片尺寸:φ25.4mmφ50mm极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,#177;0.01mm
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环氧树脂高频介电常数测试仪 详细摘要: 描述:环氧树脂高频介电常数测试仪介电常数测试仪采用高频谐振法,并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测...
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怎么测试介电常数和介质损耗 详细摘要: 描述:怎么测试介电常数和介质损耗把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容"两个端子上。在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公...
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QS37a工频介电常数介质损耗检测仪 详细摘要: 描述:QS37a工频介电常数介质损耗检测仪是本公司推出的新一代高压电桥,主要用于测量工业绝缘材料的介质损耗(tgδ)及介电常数(ε)。符合GB1409、GB56...
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绝缘材料介电常数测定仪 详细摘要: 描述:绝缘材料介电常数测定仪DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减...
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介电性能测试仪器 详细摘要: 描述:介电性能测试仪器 QS30I型高精密高压电容电桥有如下特点。主电桥主要采用电流比较仪的原理并结合计算机数据处理,具有操作方便可靠、测量精度高、读数位数多、...
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QS37a介电常数测定仪 全自动介损仪 详细摘要: 描述:QS37a介电常数测定仪 全自动介损仪自动抗干扰精密介损测试仪突破了传统的电桥测量方式,采用变频电源技术,利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模/...
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工频介电常数测试仪QS37型 详细摘要: 描述:工频介电常数测试仪QS37型液压式固体绝缘材料测试电极制造成平板型带保护电极的三端式电容器,可以在加压、加温及抽真空条件下,配以高压电容电桥在工频电压下对...
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介电常数及介质损耗测试仪价格 详细摘要: 描述:介电常数及介质损耗测试仪价格电桥在使用过程中,灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度,为保证测量准确度,希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测...
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QS30电容器介电常数测定仪 高压电桥 详细摘要: 描述:QS30电容器介电常数测定仪 高压电桥高压将标准电容器预置盘调整到目前所使用的标准电容量的数值。将电源开关打开,指零仪的指针会向上摆动一下,然后再回到另位...
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电容器工频介电常数介质损耗测试仪 详细摘要: 描述:电容器工频介电常数介质损耗测试仪QS30I型高压电桥电容测量的大倍率为1000:1。当测量大电容器(如电力电容器)时,这一比率值显得不够,需配用QS30-...
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介电常数测试仪 详细摘要: 描述:介电常数测试仪采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量电容器,互感器,变压器,各种电工绝缘油及各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗(tgδ)和电容量(C)及介...
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介电常数介质损耗测量仪 详细摘要: 描述:介电常数介质损耗测量仪是在电感测试时,增加了仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能,从而大大提高了在电感值(特别是小电感值)测量时的精度。二是大电容...
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