KQ-DCR120冲击试验箱

KQ-DCR120冲击试验箱适用于电工,电机,电子零部件,半导体,电子线路板,金属材料,轴承,显示等各种材料,在温度急剧变化环境下对产品的破坏性能试验。

KQ-DCR120冲击试验箱上部为高温区,下部为低温区,试件放置在吊篮中,吊篮轮流在高温箱和低温箱内进行试验!

外配控制计算机可通过软件直接显示和打印试验数据／曲线，并将试验所记录的数据进行存储；配有远程USB接口。

1.试样限制

本试验设备禁止：

易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存

腐蚀性物质试样的试验及储存

生物试样的试验或储存

强电磁发射源试样的试验及储存

2.測试环境条件

环境温度为5～35℃、相对湿度≤85%RH

3.容积和尺寸

3.1吊 篮 尺 寸

3.2高温室尺寸

3.3低温室尺寸

450×450×450（mm）（W×D×H）

600×600×500（mm）（W×D×H）

600×600×500（mm）（W×D×H）

4.性能

4.1. 工作室温度冲击范围

4.2. 高温室温度范围

4.3. 低温室温度

4.4. 温度波动度：

4.5. 温 度 偏 差

4.6. 温度恢复时间

4.7. 温度转换时间

4.8.连续工作1000个循环

－65℃～+150℃              

室温～200℃、升温时间≤30分钟 

室温～-60℃、降温时间≤60分钟

≤±0.5℃

≤±2℃

≤5分钟                  

≤10 秒               

常温降到－60℃ ≤60分钟