镀层测厚仪

CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。*的涡电流测试方法使测量更精确。配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度，同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。 
CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。

技术参数：

型号：CMI 243 镀层测厚仪 膜厚仪 牛津仪器专业供应 
品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 

●ECP-M探头：锌、镍均可以测量 
●准确度：±1% 
●测量范围：0.08-1.50mils(2-38μm) 
●分辨率：0.01mils (0.25μm) 
●小测量半径0.06英寸(1.55mm) 
●适用标准：符合ASTM B244—b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 
●单位：英制和公制单位自动转换 
●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，终值 
●记忆储存：12,400个数据储存 
●接口：RS-232串行端口，波特率可调，可接打印机或计算机 
●显示：液晶显示(LCD),字符高度1/2” (1.27cm) 
●电池：9V干电池或可充电电池。 
●尺寸：57/8” (L) ×31/8” (W)×13/16” (D) (14.9×7.94×3.02 cm) 
●重量：9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内)