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TIME2500时代覆层测厚仪

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更新时间:2020-04-07 22:23:00浏览次数:340

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产品简介

加工定制    
TIME2500时代覆层测厚仪体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

详细介绍

TIME2500时代覆层测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。本仪器符合下列有关标准:

GB/T 4956-2003  磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法

TIME2500时代覆层测厚仪功能特点:

♦可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

♦设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX) 、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);

♦具有删除功能:删除当前值、校准值、限界值、所有值;

♦具有两种测量方式:连续测量方式和单次测量方式;   

♦存储500个测量值;

♦具有两种工作方式:直接方式和批组方式;

♦中、英文菜单;

♦具有欠压指示功能;

♦操作过程有蜂鸣声提示;                 

♦具有错误提示功能;

♦背光显示;  ♦自动、手动关机。

技术参数:

测头类型

F

测量原理

磁感应

测量范围

0-1250µm

低限显示分辨力

0.1µm (100µm以下为0.1µm)

探头连接方式

一体化

示值误差

零点校准(um)

±[3% H + 1]

两点校准(um)

±[(1% ~ 3%) H + 1]

测量条件

zui小曲率半径(mm)

凸 1.5  ;  凹9

基体zui小面积的直径(mm

ф7

zui小临界厚度(mm)

0.5

温湿度

0~40℃   ;  20%RH~90%RH

统计功能

平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

工作方式

直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

测量方式

连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)

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