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详细介绍
Moxtek公司生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成，主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中，作为能量分辨的探测器。
XPIN-XT探测器主要技术指标
有效探测面积：6 mm2 、 13 mm2
硅片厚度：450um、625um
铍窗厚度：8um、25um
准直器材料：W/Co/Ti/Al
能量分辨率：6 mm2 < 170eV FWHM
13 mm2: < 230eV FWHM
峰背比：6mm2: 3600/1 @ 1keV （typical）
13mm2: 3000/1 @1keV （typical）
型号的选择
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