产品展厅收藏该商铺

您好 登录 注册

当前位置:
先锋科技(香港)股份有限公司>>光度色度>>激光粒度仪>>激光粒径仪 粒度/颗粒/粉末分析仪器

激光粒径仪 粒度/颗粒/粉末分析仪器

返回列表页
  • 激光粒径仪 粒度/颗粒/粉末分析仪器

收藏
举报
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 厂商性质 经销商
  • 所在地

在线询价 收藏产品 加入对比

更新时间:2023-08-31 09:49:00浏览次数:424

联系我们时请说明是环保在线上看到的信息,谢谢!

产品简介

激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量,-200到200mV间进行界达电位测量。

详细介绍

产品简介

激光粒径仪提供快速、准确、便捷的粒径大小测试,界连电位测试以及分子量的测试。 该分析仪可在0.6纳米至10微米粒度范围内进行粒径测量,-200到200mV间进行界达电位测量。

激光粒径仪产品特点

  • 通过型的高感度APD提高感光度,成功的缩短测试时间
  • 搭载自动温度梯度测量功能,可分析变性,相变温度。
  • 可测量0~90摄氏度宽阔的温度范围
  • 增加了大范围分子量测定及解析功能
  • 可测量悬浊的高浓度样本粒径,界达电位
  • 对应小尺寸样本平板界达电位测量

应用

  • 纳米生物,医药领域
  • 纳米材料,新机能性材料领域
  • 食品,化妆品领域
  • 高分子,化学工业领域
  • 精密陶瓷,颜料工业领域
  • 半导体领域

ELSZ规格表

界达电位(ZS,Z)

粒径(ZS,S)

分子量(ZS,Z)

量测原理

电泳光散射法(Laser Doppler)

动态光散射法(DLS)

静态光散射法(SLS)

光学系统

外差法光学系统

等差法光学系统

双雷射光源

半导体雷射(660 nm, 30 mW)

半导体雷射(660 nm, 70 mW)

感光组件

高感度APD

样品容器

标准矩形流道容器

四角形样品容器

高浓度容器

量测范围

±200 mV

0.6nm~10μm

360 ~ Mw

量测浓度

0.001~ 40%

0.00001~ 40%

-

量测样品型式

液态样品

平面及薄膜状固态表面

液态样品

液态样品

温控

0~90℃ (分辨率0.1℃)

软硬件功能

固态样品界达电位量测

(样品大小 15mm*35mm)

STAGE可动扫描水平面位移界达电位解析

(Smoluchowski公式, Huckel公式)

电泳解析(森&冈本公式)

pH滴定解析(等电点解析)

界达电位迭图功能

平均粒径解析(Cumulant法) 粒度分布解析

(Marquardt法/NNLS法

Contin法/Unimodal法)

STAGE可动改变量测点逆函数&残差显示功能粒径监控功能

粒径显示范围(0.1 nm~106nm)

分子量解析(Debye法) 第二维里系数

惯性半径补正功能

自动滴定仪

pH 1~13

强酸/强碱/添加剂三管独立注射滴定分辨率 0.1μL

滴定模式添加剂模式循环模式

-

电源

100 V ± 10 V, 50/60 Hz, 250 VA


收藏该商铺

登录 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我们将在第一时间回复您~

对比框

产品对比 二维码 意见反馈

扫一扫访问手机商铺
在线留言