可控硅可靠性测试及测试标准-高压加速寿命试验/高压蒸煮(二)-技术文章-苏州安而森试验设备有限公司

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苏州安而森试验设备有限公司

经营模式：经销商

商铺产品：122条

所在地区：江苏苏州市

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技术文章

阅读：25发布时间：2023-1-31

二、高压加速寿命试验/高压蒸煮(PCT/Autoclave)

目的：检验器件抵抗水汽侵入及腐蚀的能力，不包括外部腐蚀。

条件： 121℃/99%RH，205kPa（2atm），96hrs。

失效机理：湿气通过塑封体及各界面被吸入并到达芯片表面,在键合区形成原电池而加速铝的腐蚀。另外，水汽带入的杂质在器件表面形成漏电通道。试验后因管脚腐蚀引起的开路或塑封体表面漏电等失效不计。

试验标准： JESD22-A102C

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