双电测数字式四探针测试仪

 测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。

双电测数字式四探针测试仪

     仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。

     仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

三、双电测数字式四探针测试仪基本技术参数

3.1  测量范围

    电阻率：1×10^-4～2×10⁵ Ω-cm，分辨率：1×10^-5～1×10² Ω-cm

    方  阻：5×10^-4～2×10⁵ Ω/□，分辨率：5×10^-5～1×10² Ω/□

    电  阻：1×10^-5～2×10⁵ Ω   ，分辨率：1×10^-6～1×10² Ω

3.2  材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)

    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限

    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.

    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.

    测量方位: 轴向、径向均可

3.3.  4-1/2 位数字电压表：

    (1)量程： 20.00mV～2000mV

    (2)误差：±0.1%读数±2 字

3.4  数控恒流源

   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

   (2)误差：±0.1%读数±2 字

3.5  四探针探头（选配其一或加配全部）

   (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调

   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调

3.6 电源

   输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W

3.7 外形尺寸：

   主机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）