详细介绍
XDV-SDD台式测厚仪
XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能较强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm²的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外,仪器还配备了各种不同的滤波片,从而能为不同的测量任务建立优化的激发条件。
特点:
· 配备了高性能的X射线管和大窗口的硅漂移探测器(SDD),能高精度地测量较薄的镀层
· 耐用的设计结构,能以出色的*稳定性用于连续测量
· 可编程XY平台和Z轴,用于自动化连续测量
· 拥有实时的视频显示和辅助激光点,使得样品定位变得快速而简便
台式测厚仪应用:
镀层厚度测量
· 测量薄镀层,如电子和半导体产业中厚度小于0.1um的Au和Pd镀层
· 测量汽车制造业中的硬质涂层
· 光伏产业中的镀层厚度测量
材料分析
· 电子、包装和消费品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令对有害物质(如重金属)进行鉴别
· 分析黄金和其他贵金属及其合金
· 测定功能性镀层的组分,如NiP镀层中的P含量
苏州优仪惠测仪器有限公司经过长年的实践积累,广泛的厂家合作,具备了一支在材料分析仪器领域从业多年的专家队伍,能为客户提供售前咨询、设计选型、安装调试、售后保障等一站式服务。主要服务产品有:手持式光谱仪、火花直读光谱仪、材料拉伸试验机、冲击试验机,试验机,三坐标,金相显微镜等产品。