1.  应用范围：

EXPLORER可以进行常规的晶相识别和相定量，可以分析晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算。也可以定量分析残留奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向和纳米粒子分析。

2．概 述

EXPLORER采用模块化设计，全部组件可以进行拆分为7个模块，同时可以在5个独立自由度上检测样品。同时EXPLORER可以提供多种配置，如范围更宽的X射线源、光路、样品台和检测器等，可以满足各种应用需求。此外将直接传动转矩马达与优势的光学编码器相结合，确保了仪器的传动速度和精度，可以胜任各类样品的定性和定量分析。

3.  技术规格

3.1  X射线发生器      

  3.11 输出功率：  3 KW(可选配4 kW)

  3.12 输出稳定性：    < 0.01 % ( 10%电压波动)

  3.13 输出电压：  60kv

  3.14 输出电流 :   60A(可选配80A)

  3.16 电压步宽：      0.1kV

  3.17 电流步宽：      0.1mA

  3.18 输入电压:        230 Vac(±10%), 50/60 Hz, 单相

3.2 X射线管

  3.21 类型：石英（可选陶瓷），铜靶（可选择任何X射线管），

  3.22 焦点：细焦点0.4 x 8 mm (可0.4 x12 mm 长细焦点;1 x 10 mm 标准焦点;2 x 12 mm长宽焦点)

  3.23 输出功率：3.0KW

3.3 测角仪Kα

  3.31 配置：             垂直或水平θ/2θ，θ/θ

  3.32 检测直径：          400-500-600mm区间内任意值

  3.33 水平扫描角度范围：  - 110° < 2θ< + 168°(取决于所选附件)

  3.34 测量角精度：         ± 0.0001°

  3.35 最小选择步数：      0.0001°

  3.36 操作模式：           连续扫描、步进扫描、θ/2θ扫描、快速扫描、θ轴向震动

  3.37 可变发散狭缝：       4°、2°、 1°、 1/2°、1/4°

  3.38 可变防散射狭缝：     4°、2°、 1°、 1/2°、1/4°

  3.39 索拉狭缝：          2°

3.4 检测器

  3.41 类型:            *闪烁计数器,(可选YAP (Ce）,抛光硅CCD检测器)

  3.42 计数方式：     2 x 106 cps (Nal)，

3.5 控制软件

  3.51 数据采集程序

         GNR提供了强大的数据采集程序，可以适用于标准配，同时适用于自定义配置。

         软件可以应用在粉末、高分辨率衍射仪、残留马氏体、应力（平面和三轴）和薄膜分析。程序可以控制X射线发生器、准直器、多用途样品台、闪耀计数器、阵列检测器、固态检测器、高低温度和其他器件。

  3.52 SAX

          可以进行单峰分析、峰值处理、背景差减，平滑，反褶积和峰值定位。结构分析，晶体尺寸，晶格应变，反射的定性和定量分析。