原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵。广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中。

AFM基本成像模式特点：
1、接触式
特点：通常情况下，接触模式都可以产生稳定的、分辨率高的图像。但是这种模式不适用于研究生物大分子、低弹性模量样品以及容易移动和变形的样品。
2、非接触式
特点：由于为非接触状态，对于研究柔软或有弹性的样品较佳，而且针尖或者样品表面不会有钝化效应，不过会有误判现象。这种模式的操作相对较难，通常不适用于在液体中成像，在生物中的应用也很少。
3、轻敲式
适用于对生物大分子、聚合物等软样品进行成像研究
特点：对于一些与基底结合不牢固的样品，轻敲模式与接触模式相比，很大程度地降低了针尖对表面结构的“搬运效应"。样品表面起伏较大的大型扫描比非接触式的更有效。
测试优势：
1) 低漂移和低噪音水平；
2) 配置有专有ScanAsys原子成像优化技术，可以简易快速稳定成像；
3) 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mm；
4) 温度补偿位置传感器使Z轴和X-Y轴的噪音分别保持在亚-埃级和埃级水平，并呈现出未有的高分辨率。；
5) 全新的XYZ闭环扫描头在不损失图像质量的前提下大大提高了扫描速度；
6) 测试样品尺寸可达：直径210mm，厚度15mm；
AFM应用技术举例：
AFM可以在大气、真空、低温和高温、不同气氛以及溶液等各种环境下工作，且不受样品导电性质的限制，因此已获得比STM更为广泛的应用。主要用途：
1. 导体、半导体和绝缘体表面的高分辨成像
2. 生物样品、有机膜的高分辨成像
3. 表面化学反应研究
4. 纳米加工与操纵
5. 超高密度信息存储
6. 分子间力和表面力研究
7 摩擦学及各种力学研究
8 在线检测和质量控制