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X射线荧光分析仪的原理
当样品被初级 X 射线照射时,电子被 X 射线的能量翻转,原子被激发。外层电子落到那里,发射出与能量差相对应的荧光X射线。定性分析是可能的,因为此时产生的荧光 X 射线具有元素的能量。也可以从荧光 X 射线的强度进行定量分析。
X射线荧光分析仪的运用
土壤中的重元素分析
焚烧灰、工业废物、废水、粉尘、电镀液、污泥
RPF、砾石、炉渣等的分析
电子零件中有害重金属的测量
半导体和磁盘的薄膜厚度测量
电极多层厚度和结构分析
电子零件镀层厚度和结构的分解
矿石勘探
粘土矿物、土壤、岩石和回收材料的分析
分析果树和烟草等植物的叶子
钢铁、有色金属
冶炼渣分析
焊锡、贵金属、合金、有色金属的主要成分杂质分析
催化剂和涂料的分析
重油中 S、V 和重金属的分析
润滑油中添加元素分析
颜料和防锈剂的成分分析
医药原料、中间产品、成品分析
材料/零件材料的判别分析
表面处理剂分析
表面膜厚测量
埋藏文物和黑曜石的 Sr/Rb 分析
评估珠宝、绘画和艺术品
贵金属配件分析
探索机场和海关
法医判断分析
食品中异物及添加剂分析
食品容器的杂质分析
陶瓷、水泥、玻璃和油漆的成分分析
打印机彩色墨水的管理与分析
塑料中的硅分析
砖和粘土的分析
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