黄生
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日本toyoseiko正电子寿命谱仪PSA
产品概要
它是一种可以使用正电子评估亚纳米尺寸（原子级）的微缺陷和空隙的方法。
正电子寿命测量是一种能够使用正电子评估亚纳米尺寸（原子级）微缺陷和空隙的技术。
本设备的应用示例
喷丸质量检查
金属疲劳损伤评估
适用于
钢、铝、钛等各种金属
无定形材料，例如玻璃和聚合物
测量深度距表面约 50 μm（钢材）
正电子寿命法原理
图1是正电子进入金属材料并湮灭的示意图。
正电子寿命测量方法是一种精确测量正电子产生过程中发射的γ射线与电子对湮灭过程中产生的γ射线之间的时间差（正电子寿命）的技术。
当材料中存在更多空位并且位错密度更高时，正电子寿命更长。常用规格
正电子源 Na-22 (~1MBq) 计数率 约 100 cps 测量范围 40 ns（用于金属、半导体和聚合物） 附属设备 ・HDO4024（Teledyne LeCroy DSO）、
（HDO4024 尺寸 W400 × L132 × H292 [mm]）
・特殊程序
・笔记本电脑等
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