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北京航天伟创设备科技有限公司
LDJD-C型硅油介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到160MHz。
LDJD-C型硅油介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创
LDJD-C型硅油介电常数及介质损耗测试仪为160Hzi介电常数测试仪,该仪器采用多种*技术,包括双双扫描、双测试要素输入、双数码化协调等技术。
主要技术参数如下:
1. 信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz
2. 信号源频率精度3×10-5 ±1个字, 6位有效数字;信号频率覆盖比11000:1;采样精度12BIT(高精度A/D采样);
3.Q值测量范围:1~1000自动/手动量程;Q值分辨率0.1,4位有效数字;Q值测量工作误差<5%;
4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
5.电感测量范围:1nH~140mH,分辨率0.1nH,自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;
6.电容直接测量范围:1pF~25nF,分辨率0.1pF,准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;
7.主电容调节范围: 17~240pF(一体镀银成型,精度高);带步进马达,电容自动搜索;
8. 材料测试厚度:0.1mm~10mm;
9. 合格指示预置功能范围:5~1000;
10.LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;
11.环境温度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13.(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
数显式微杆,平板电容器:
极片尺寸: 38mm
极片间距可调范围:≥15mm
夹具插头间距:25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
测微杆分辨率:0.001mm
测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm
*液体杯:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm
14. 电感组LKI-1:
分别由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。
北京航天伟创设备科技有限公司还生产其他型号介电常数仪,型号如下:
LDJD-A型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz~70MHz
LDJD-B型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz~110MHz
LDJD-C型介电常数及介质损耗测试仪 100kHz~160MHz
LDJD-C型硅油介电常数及介质损耗测试仪——航天伟创
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