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Fidas®U-SMPS通用扫描迁移率粒径谱仪

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更新时间：2023-02-11 07:21:52浏览次数：142次

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江苏海兰达尔环境科技有限公司

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产品简介

Palas®SMPS扫描电迁移率粒径谱仪是*的纳米颗粒测量系统，可测量4nm到1200nm的气溶胶粒径分布，不仅能够提供准确可靠的粒径分析和计数功能，而且高达256原始通道能够实现高粒径分辨率。

详细介绍

产品特点:

集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪
适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用
使用单颗粒分析测量PM2.5/PM10
适用于108 颗粒/ cm3 的浓度
跟其他制造商的DMA 和纳米颗粒计数器通用
7 英寸触摸屏和GUI 直观操作，图形显示测量结果

产品概述:

Fidas®U-SMPS通用扫描迁移率粒径谱仪

Palas® 通用扫描迁移率粒径谱仪（U-SMPS）可提供两种版本。长分类柱（2050X / 2100X / 2200X 型号）可以确定8 至1200 nm的粒径分布。该系列已经集成了X射线源作为中和器，代替放射性中和器（例如使用Kr-85），优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。Palas®U-SMPS系统包括一个分类器，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC型号可在各种浓度范围内实现的单颗粒计数。

Palas 使用了由Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为U-SMPS的颗粒分布。U-SMPS使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短30秒之内执行，并且每十进制多达64 个尺寸通道。在扫描期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。（可达10 6 颗粒/cm³ ）进行监测。

Palas®U-SMPS 支持DMA，CPC和其他制造商的气溶胶静电计。 U-SMPS对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。选配的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。双极中和剂（XRC 049）用于确保气溶胶电荷分布符合预定。在DEMC的入口处需要一个撞击器以去除大于分类器尺寸范围的颗粒。

关键词：粒度仪颗粒计数器

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