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上海奕纵精密仪器有限公司


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  • 45mm平面平晶(1级平晶)

    详细摘要: 45mm平面平晶(1级平晶)

    产品型号:所在地:更新时间:2021-05-25 在线留言

  • 200mm平面平晶(1级平晶)

    详细摘要: 200mm平面平晶(1级平晶)

    产品型号:所在地:更新时间:2021-05-25 在线留言

  • 平面平晶-平行平晶-平面光带检测仪

    详细摘要: 1、平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶用于检定量块的研合性和平面度,以及仪器量具...

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  • YZ-XWJ生物显微镜校准装置

    详细摘要: YZ-XWJ生物显微镜校准装置

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  • 0-1000mm三等标准金属线纹尺

    详细摘要: 0-1000mm三等标准金属线纹尺

    产品型号:所在地:更新时间:2021-05-25 在线留言

  • 100mm平面平晶/平面光带检测仪

    详细摘要: 1、机械密封件平面度检测仪是由平面平晶和钠光灯源箱组成的一套平面度检测仪,又叫平面光带检测仪,其中采用的1级平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件...

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  • 150mm平面平晶/平面光带检测仪

    详细摘要: 1、机械密封件平面度检测仪是由平面平晶和钠光灯源箱组成的一套平面度检测仪,又叫平面光带检测仪,其中采用的1级平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件...

    产品型号:所在地:更新时间:2021-05-25 在线留言

  • 350mm平面光带检测仪/平面平晶

    详细摘要: 1、机械密封件平面度检测仪是由平面平晶和钠光灯源箱组成的一套平面度检测仪,又叫平面光带检测仪,其中采用的1级平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件...

    产品型号:所在地:更新时间:2021-05-25 在线留言

  • 300mm平面光带检测仪/平面平晶

    详细摘要: 1、机械密封件平面度检测仪是由平面平晶和钠光灯源箱组成的一套平面度检测仪,又叫平面光带检测仪,其中采用的1级平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件...

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  • 250mm平晶/密封环平面度检测仪

    详细摘要: 1、机械密封件平面度检测仪是由平面平晶和钠光灯源箱组成的一套平面度检测仪,又叫平面光带检测仪,其中采用的1级平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件...

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  • 200mm平晶/机械密封件平面度检测仪

    详细摘要: 1、机械密封件平面度检测仪是由平面平晶和钠光灯源箱组成的一套平面度检测仪,又叫平面光带检测仪,其中采用的1级平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件...

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  • 100mm平面平晶/1级平晶

    详细摘要: 1、平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶用于检定量块的研合性和平面度,以及仪器量具...

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  • 150mm平面平晶/1级平晶

    详细摘要: 1、平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶用于检定量块的研合性和平面度,以及仪器量具...

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  • 60mm平面平晶/1级2级平晶

    详细摘要: 1、平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶用于检定量块的研合性和平面度,以及仪器量具...

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  • 平行平晶0-25/25-50/50-75/75-100

    详细摘要: 平行平晶用于检定千分尺、杠杆千分尺、杠杆卡规和千分尺卡规等量具测量面的平面度和两相对测量的平行度。平行平晶共分四个系列,每个系列各分六组,每组四块。功能:平行平...

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  • YZJD-50S光栅式指示表检定仪

    详细摘要: YZJD-50S型光栅式指示表检定仪,采用精密计量光栅尺作为长度标准器;步进电机作为驱动动力。是融合光、机、电、技术于一体的新产品。YZJD-50S光栅式数控指...

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  • LG-1立式光学计/光学比较仪

    详细摘要: 立式光学计LG-1又名立式测长仪或立式光学比较仪,是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块,一级精度柱型规以及各种...

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  • 研磨面平尺300mm|500mm

    详细摘要: 研磨面平尺300mm|500mm

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  • 5米标准钢卷尺/符合JJG741-2005

    详细摘要: 5米标准钢卷尺/符合JJG741-2005

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  • 210型长平晶310型长条平晶

    详细摘要: 平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶测量面与工件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。平面平晶用于检定量块的研合性和平面度,以及仪器量具的测...

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