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麦奇克莱驰MICROTRAC MRB 粒度和粒形分析 CAMSIZER M1

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更新时间：2024-01-26 14:03:12浏览次数：143次

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产品简介

粒度和粒形分析器CAMSIZERM1高分辨率静态图像分析(ISO13322-1)从0

详细介绍

粒度和粒形分析器 CAMSIZER M1

高分辨率静态图像分析(ISO 13322-1)从0.5 μm到1500 μm
1,810万像素彩色摄像头
可达6个放大倍数
对非常小的颗粒进行准确分析
优异的图像质量
高精度形状分析
色散模块M-Jet
自动测量，操作方便
缝线功能
使用Particle X-Plorer进行综合评价

优势

1. 分析仪配有五个镜头，放大率从2.5倍到50倍。可根据要求增加一个额外镜头(如100x)。

2. 一个1810万像素的彩色相机捕捉粒子图像具有优异的分辨率，高度准确的分析结果。

3. 样品台由一个带有四个可编程功能键的三轴操纵杆控制。

4. 高精度的样品台有225毫米× 76毫米宽的移动范围，位置精度为3 μm，位置重复性为1 μm。因此，可以分析一个区域对应8个标准的物体幻灯片。

5. 样品可以在透射光或入射光中进行分析。强大的LED光源，保证了均匀的照明和优良的图像质量。

6. 高效的分散模块M-Jet确保在数秒内完成粉末样品的制备。

M-JET使颗粒更好分散

高效的显微分析样品制备
由于任何分析都与前面的样品制备一样好，因此开发了分散模块M-Jet，以确保在CAMSIZER M1测量前干燥粉末的均匀分布和有效分散。新的分散单元M-Jet保证了显微镜分析用各种载体上的样品制备。功能原理为负压，不需要压缩空气供给。由于的喷嘴几何结构，即使是十分细小的粉末也能有效地分离和均匀地分布在目标板上。

M-Jet的好处:

分散采用负压10kpa - 70kpa
各种分散喷嘴
可储存8个SOP
通过触摸板和控制旋钮操作舒适

典型应用

CAMSIZER M1静态图像分析适用于广泛的分散系统。特别是在研究开发中，该方法信息量大，评价选项多，具有很高的应用价值。

化学试剂
纤维制品
陶瓷粉体
细磨抛光剂

工业金刚石
食物
金属粉末
矿物

活性药物成分和辅料
聚合物
调色剂

静态图像分析还是动态图像分析?

粒子特征可以通过静态或动态图像分析来实现。对于动态图像分析(ISO 13322-2)，粒子流生成，由相机拍摄和评估。静态图像分析(ISO 13322-1)是基于显微镜;粒子被放置在一个物体板上，并被一步一步地拍摄下来。因此，不同之处在于粒子的运动:对于动态图像分析，粒子是在运动中捕获的，而对于静态图像分析，粒子是静止的。动态图像分析非常适合于散装货物、粉末、颗粒和悬浮物的常规测量。该方法具有样品通量高、可靠、重现性好等特点。它经常被用作常规筛析的替代方法。
静态图像分析主要用于测量狭窄的尺寸分布，针对非常细的颗粒的表征。这种方法提供了高分辨率和pin-sharp粒子图像，允许大小和形状描述与非常高的精度。该技术被广泛应用于科研领域。开发应用程序。Microtrac MRB为这两种测量技术提供了强大的分析系统。我们很乐意告诉你哪种方法你的要求。

附件和选项

为CAMSIZER M1提供广泛的配件，为您提供成功的颗粒分析所需的一切。四种不同的样品夹可快速方便地插入样品台，保证高度的灵活性。

8个标准物体板支架，76 x 28毫米
4个物体板支架，76 x 52毫米
玻璃板，147毫米x313毫米
圆形滤芯支架

除了2.5倍、5倍、10倍、20倍、50倍的放大率标准镜头外，还可以多使用一个镜头，例如1.25倍或100倍。

大工作距离的光学保证了可靠的结果 Camsizer M1的样品夹 M-Jet制样直观的软件，包括Particle X-Plorer

技术参数

测量原理	静态图像分析 (ISO 13322-1)
测量范围	0.5 µm - 1500 µm
分析类型	干法和湿法分析
测量时间	~ 5 — 60分钟（取决于样品类型和测量数据）
分辨率	18.1 M像素彩色摄像头
数字分辨率	35 nm
可用物镜	标准: 2.5x 5x 10x 20x 50x 可选: 1.25x or 100x
重量 (测量单元)	~ 45 kg
操作单元	PC，包括Windows 10操作系统、2台显示器、键盘、鼠标、评估软件

作用原理

CAMSIZER M1使用静态图像分析原理，在0.5µm到1500µm的测量范围内确定颗粒大小和颗粒形状。带有样本材料的物体滑块沿着每一步获取一幅图像的摄像系统逐步移动。样品可以是干的或湿的(粉末或悬浮液)。与动态图像分析相比，在测量过程中样品是平稳的;因此，粒子图像具有良好的质量和丰富的细节。在每次测量开始时，颗粒大小/颗粒形状分析仪CAMSIZER M1确定测量区域的焦平面，确保所选区域的所有颗粒图像都是pin-sharp(倾斜补偿)。所有图像和测量数据都可以在分析过程中存储，使用Particle X-Plorer模块为后续数据评估提供多种可能性。当测量完成后，一个概览图像会给用户一个关于粒子质量的好主意。扩展到超过一个测量域的粒子可以使用创新的拼接算法拼接在一起，因此可以评估它们的尺寸大于1500微米。

关键词：显微镜金属粉末显示器