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北京安洲科技有限公司
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SOC710CR高光谱文物成像系统具有*的内置推扫技术、双CCD可预览、一键式测量等特点，可提供实验室暗箱、实验室平台及显微测量等多种操作模式。后期光谱提取与特征提取等技术可上满足用户的需求，在文物保护、修复、真伪识别等方面具有重要作用。
SOC710CR高光谱文物成像系统
目前文物鉴定的传统方法中很多是有损或微损的，需取样才能分析；而且，有损测试的分析结果只局限于测试点或取样点，而不能*代表未测试部位的信息。高光谱成像技术能同时提供待测物整体的图像和光谱信息，可以对目标物进行高光谱识别和分类；其具有快速测量、能进行精细分类与识别等优点，且对文物无损伤，在文物分析领域具有广阔的应用前景。
SOC710CR高光谱文物成像系统具有*的内置推扫技术、双CCD可预览、一键式测量等特点，可提供实验室暗箱、实验室平台及显微测量等多种操作模式。后期光谱提取与特征提取等技术可上满足用户的需求，在文物保护、修复、真伪识别等方面具有重要作用。
400-1000nm 探测器1392*1040 内置式推扫 可直接显微成像 双CCD可预览 自动暗电流 自动曝光时间 可快速安装 |
※ 快速无损获取高光谱图像信息，数据真实可靠
※ 双CCD设计，直接预览测量区域，所见即所得
※ 内置式扫描，图像无畸变，自动扣除暗电流
※ 不仅可获取目标反射率，还可获取辐亮度值
※ 可自动连续测量，监测目标光谱动态变化
※ 软件自带数据标定、高光谱分类等多种功能
※ 软件实时分析，光谱提取、光谱分类与结果输出
※ 可满足暗箱系统-室内实验台-显微镜等多种使用条件
SOC710CR高光谱文物成像系统应用案例：
产地：美国
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