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北京欧波同
Quattro-环境扫描场发射电镜
Quattro的场发射电子枪(FEG)确保了优异的分辨率,通过不同的探测器选项,可以调节不同衬度信息,包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示,使得单次扫描即可获得样品信息,从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统灵活性,可以容纳泛的样品类型,无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下,均可获得可靠的分析结果。Quattro*的硬件有用户向导支持,不仅可以指导操作者,还可以直接进行交换,轻松缩短结果获取时间。
金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层
地质样品断面、矿物
软材料:聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料
颗粒、多孔材料、纤维
水合/脱水/湿润/接触角分析
结晶/相变
氧化/催化
材料生成
拉伸(伴随加热或冷却)
发射源:高稳定型肖特基场发射电子枪
分辨率:
型号 Quattro C Quattro S 高真空 30 kV(STEM) 0.8 nm 30 kV(SE) 1.0 nm 1 kV(SE) 3.0 nm 高真空下减速模式 1 kV(BD+BSED) 3.0 nm 1 kV(BD+ICD) 2.1 nm 200 V(BD+ICD) 3.1 nm 低真空 30 kV(SE) 1.3 nm 3 kV(SE) 3.0 nm 30 kV(BSE) 2.5 nm 环境扫描模式 30 kV(SE) 1.3 nm
放大倍率:6 ~ 2,500,000×
加速电压范围:200 V ~ 30 kV
着陆电压:20 eV~30 keV,电子束减速可选
探针电流范围:1 pA ~ 200 nA,连续可调
样品台和样品:
探测器系统:
同步检测多达四种信号,包括
样品室高真空二次电子探测器ETD
低真空二次电子探测器LVD
气体SED(GSED,用于环境扫描模式)
样品室内IR-CCD红外相机(观察样品台高度)
样品导航彩色光学相机Nav-Cam™
珀尔帖台集成式STEM,用于观察湿薄样品- WetSTEM™
控制系统:
操作系统:64位GUI(Windows 7)、键盘、光学鼠标
图像显示:24寸LCD显示器,WUXGA 1920×1200
定制化的图像用户界面,可同时激活多达四个视图
导航蒙太奇
软件支持Undo和Redo功能
在自然状态下对材料进行预案为研究,具有环境真空模式(ESEM)的*高分辨率场发射扫描电镜;
缩短样品制备时间:低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析,样品表面无荷电累积;您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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