光学行业基准型仪器；
标准实验室标样鉴定、光学、镀膜、半导体、光伏、太阳能等行业。
自带光学平台，防震系统，仪器在实验室之间可以移动，反映光路稳定，不需要重新校准
| 切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样UH4150也可实现高精度的测定。 | ||
| 安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等，将检测器切换时（信号水平的差异）吸光度值的变化降到最小。 | ||
| 日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振。 |
| UH4150采用棱镜-光栅（P-G）双单色器的光学系统，秉承U-4100光学系统的特点。 棱镜-光栅（P-G）系统与常见的光栅-光栅（G-G）系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品，UH4150也可实现低噪音测定。 |
| 平行光束可实现反射光和散射光的准确测定。 | ||
| 入射角对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束，由于入射角根据透镜的焦距等因素会不同，因此，像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。 但对于平行光束，相对于样品入射角始终相同，实现了高精度镜面反射率的测定。此外，平行光束可用于扩散率（雾度）的评价和透镜透过率的测定。 | ||
| 仪器结构： | 双光束 | 光谱带宽： | 0.1nm |
| 波长准确度： | ±0.2nm | 杂散光(S.L.)： | ±0.00008%T |
| 波长范围： | 175nm~3300nm | 自动程度： | 自动波长 |
| 波长范围： | 紫外可见近红外 | 接收器类： | 光电二极管阵列 |
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