日本三丰Mitutoyo数显测微头350-261-30产品简介：● 配备有数显显示屏和数据输出功能。

日本三丰Mitutoyo数显测微头350-284-30产品简介：● 配备有数显显示屏和数据输出功能。

日本三丰Mitutoyo数显测微头350-283-30产品简介：● 配备有数显显示屏和数据输出功能。

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164-163三丰Mitutoyo数显测微头164-163产品简介：● 配备有数显显示屏和数据输出功能。

422-412三丰薄片型千分尺422-412特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合金测量面。

422-411三丰薄片型千分尺422-411特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合金测量面。

422-271-30三丰薄片型千分尺422-271-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-270-30三丰薄片型千分尺422-270-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-261-30三丰薄片型千分尺422-261-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-260-30三丰薄片型千分尺422-260-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-233-30三丰薄片型千分尺422-233-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-232-30三丰薄片型千分尺422-232-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-231-30三丰薄片型千分尺422-231-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。2.可用硬质合...

422-230-30三丰薄片型千分尺422-230-30特点：1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。