电子控温冷热冲击箱 返回列表页

电子控温冷热冲击箱适用的对象包括电路板、PCB板、线路板、PCB、电子元器件、电子产品、电阻、电容、电源、电池、连接器、建材、油漆、涂料、LED、LED照明、LED显示屏、LCD、LCD模组、光电、光纤、光伏组件、金属，塑料，橡胶，胶粘、印刷、航空、航天、仪器仪表等材料，可作为其产品改进的依据或参考。三箱式温度冲击试验箱主要用于测试产品及零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

电子控温冷热冲击箱满足的试验方法有：SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87 405温度冲击试验；GB/T 2423.22-2002温度变化；GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。

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